[New] EP4 Imaging Ellipsometer 2015-12-01  
 
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(주)원우시스템즈는 광학분석장비전문업체로서 현재 연구하시는 Graphene, Nano materials 구조에
도움이 될 만한 Accurions 사의 Imaging Ellipsometer, Nanofilm EP4 를 소개합니다.

Auto nuling ellipsometry 와 Microscopy 기술결합으로 1마이크론 정도의 수평해상도로
박막 표면 특성 분석이 가능한 제품입니다.

대부분의 Micro spot 분광옵션을 적용한 Non-Imaging Ellipsometer와 비교해도
1000배나 작은 Sample area에 대한 분석이 가능합니다.

Imaging Ellipsometer EP4 바로가기
 

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