우수한 열 안정성(good thermal stability)
- 높은 반복 재현성이 요구되는 온도 환경 변화가 민감한 산업환경에 적용 가능
Unit 간 감도 차이 개선
- 최적의 OEM 솔루션
Interchangeable Slit
- 손쉬운 Slit 교체 가능으로 형광/라만 어플리케이션 부터 반사율/투과율/흡광도 측정 어플리케이션 적용 가능
LED 표시등
- Spectrometer 통신 상태 확인 가능
NEW DD4 high density 40 pin connector
- 시스템의 일부로서 다양한 통신을 통한 integration이 용이
Model
FLAME-S
FLAME-T
Detector
Sony ILX511B linear silicon CCD array
Toshiba TCD1304AP linear silicon CCD array
Detector range
190-1100 nm
190-1100 nm
Pixels
2048 pixels
3648 pixels
Pixel well depth
~62,500 electrons
SPECTROSCOPIC
Optical resolution
~0.1-10.0 nm FWHM (configuration dependent)
Signal-to-noise ratio
250:1 (full signal)
300:1 (at full signal)
Dark noise
50 RMS counts
Dynamic range
1300:1 for a single acquisition, 8.5 x 10^7 (system)
Integration time
1 ms - 65 seconds
3.8 ms - 10 seconds
Stray light
<0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm
Corrected linearity
>99%
Connectors
USB, high density 40 pin JAE DD4 connector
07072 서울시 동작구 신대방1가길 38 (신대방 719번지 동작상떼빌) 106동 209호 (주)원우시스템즈 TEL : 02-533-6720 FAX : 02-533-9614 Santevill 106-209, 38, Sindaebang1ga-gil, Dongjak, Seoul, 07072, South Korea
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